讲述HY塑封冷热冲击试验箱失效现象常态
每台设备使用久了之后都会出现失效的现象,这时,我们就要去分析并解决这种失效现象。当然,冷热冲击试验箱在使用久了之后也会出现失效现象,下面,由环仪厂家讲述塑封冷热冲击试验箱失效现象常态:
1.在硅片上集成有大量电子元件的集成电路芯片及其元件通过导线连接起来构成电路。由于铝和铝合金价格便宜,加工工艺简单,因此通常被使用为集成电路的金属线。
2.从进行集成电路塑封工序开始,水气便会通过环氧树脂渗入引起铝合金属导线生产腐蚀进而产生开路现象,成为品质工程*为头疼的问题。人们虽然通过各种改善包括采用不同环氧树脂材料、改进塑封技术和提高非活性塑封膜为提高产品质量进行了各种努力,但是随着日新月异的半导体电子器件小型化发展,塑封铝金属导线腐蚀问题至今仍然是电子行业非常重要的技术课题。
待冷热冲击试验箱http://www.dghuanyi.com/products_content-568889.html出现失效现象之后,一定要及时解决,这样才不会影响试验过程以及试验结果,当然也不会影响设备的稳定性以及缩短设备的寿命。
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