购买高低温箱必看--冷热冲击试验箱和快速温变试验箱区别
客户在评定试验方法采用哪种设备的时候,我司技术人员在与采购冷热冲击试验箱和快速温变试验箱的新客户沟通发现对设备的区别比较模糊,下面简单介绍两种设备区别供广大用户参考
冷热冲击试验主要考核试件在温度瞬间急剧变化一定次数后,检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理破坏
快速温变(环境应力筛选ESS) 利用外加的环境应力,使潜存于电子产品研发、设计、生产制程中,因元器件、制造工艺和其它原因等所造成的早期故障提早发生而暴露出来,给予修正和更换
测试阶段不一样
冷热冲击试验主要在研发设计阶段 快速温变主要在量产阶段
测试对象不同
冷热冲击主要用于测试材料结构或复合材料,现在用的多的还是电子产品的元器件或者组件级(如PCBA,IC)很少用于做设备级
快速温变 主要适用于电子产品的元器件级,组件级和设备级
温度变化速率要求
冷热冲击试验 无温变速率指标,但要求温度恢复时间,参考点一般在出风口,国内外标准都要求5min以内,越快越好;也有标准要求在产品表面量测,温度恢复时间在15min以内
快速温变 为了增强筛选效果,常见快速温变箱建议选择温变速率为10~25℃/min,且温变速率可控; 温变速率要求不一样 样品失效模式 由于材料蠕变及疲劳损伤引起的失效,也称脆性失效 由于材料疲劳引起的失效 失效模式不一样 常见故障现象 如零部件的变形或破裂,绝缘保护层失效,运动部件的卡紧或松弛电气和 电子元器件的变化,快速冷凝水或结 霜引起电子或机械故障 如涂层、材料或线头上各种微裂纹扩大;使粘结不好的接头松驰;使螺钉连接或铆接不当的接头松驰;材料热膨胀系数不同产生的变形和应力引起的故障,使固封材料绝缘下降;使机械张力不足的压配接头松驰;使质差的钎焊接触电阻加大或造成开路;使运动件及密封件故障 从故障现象看上看二者有很多相同之处
参考标准
冷热冲击JESD22-A106B G-150-A MIL-STD-810G MIL-STD-202G
快温变JEDEC JESD22-A104-b IEC68-2-1 MIL-STD-2164-85 IEC60749-25
设备选择
冷热冲击 a.对元器件(电容、电感、IC),板卡的中小尺寸产品,优选择提篮式冷热冲击,测试效果更严苛 b.对超大尺寸产品,如液晶电视或者重型产品,建议选择三箱式会更适合 c.如果遇到重型产品,而且尺寸也比较大,同时要求过冲小,可选择水平式提篮冷热冲击箱做参考 d.除霜周期要求
快速温变 a.设备尺寸大小,常见尺寸400L, 800L, 1000L或定制 b.实际测试温度范围(如: -40℃~85℃),同时也要求设备全程温度范围(如:-70℃~190℃) c.温变速率要求;是线性温变速率还是平均温变速率;如有带载温变速率要求,要明确带载情况,包括静态负载(通常拿铝锭做参考)和热负载(产品带电发热) d.验收标准(如: IEC-60068-3-5 和GB/T 5170)
是否对购买哪种设备有目标了……
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