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不飽和/飽和蒸気寿命試験チャンバー
経年劣化試験チャンバー

不飽和/飽和蒸気寿命試験チャンバー

HAST(高加速ストレス試験)チャンバーは、半導体の湿度試験にかかる時間を短縮します。温度を100℃以上に上昇させ、圧力を高めることで、通常の湿度試験と同様の故障メカニズムを維持しながら、試験をシミュレーションできます。

  • 基準を満たす GB/T2423.40-2013、IEC60068-2-66:1994。

アプリケーション

不飽和/飽和蒸気寿命試験チャンバーは、国防、航空宇宙、自動車部品、電子部品、回路基板、IC、LCD、照明製品などの製品のシール性能試験に適しています。関連製品の加速寿命試験は、製造工程中の製品に使用されます。設計段階では、製品の欠陥や弱点を迅速に明らかにするために使用され、製品の耐摩耗性や気密性を試験します。

特徴

1. 不飽和/飽和蒸気寿命試験チャンバーは、SSR非接触加熱制御を採用しています。
2. 水位保護、炉内の水位検知による保護。
3. 安全保護圧力解放ボタン、緊急安全装置2段階自動圧力解放ボタン。

技術パラメータ

モデル

HY-PCT-300

HY-PCT-400

HY-HAST-300

HY-HAST-400

内寸(幅×高さ×奥行)cm

Ф30x40

Ф40x50

Ф30x40

Ф40x50

外寸(幅×高さ×奥行)cm

55x120x50

65x130x60

55x120x50

65x130x60

外装材

ステンレス鋼 #304

内装材

プラスチックのスプレー塗装

温度範囲

+100℃~132℃(オプションで最大145℃まで対応可能)

動作温度

121℃/132℃

湿度範囲

湿度100%(制御不能)

温度均一性

±1.5℃

構造

標準圧力容器

加湿システム

電熱管

給水システム

手動給水(自動給水)

圧力範囲

0.2~2kg/cm²(オプションで最大3kg/cm²まで対応可能)

220V~240V、50/60Hz、単相

最大作動圧力

3kg/cm²、6AT​​M以上の高酸素圧に耐えることができる

温度コントローラー

PIDマイクロコンピュータ温度コントローラを使用

不飽和蒸気寿命試験チャンバー(1)不飽和蒸気寿命試験チャンバー(2)不飽和蒸気寿命試験チャンバー(3)不飽和蒸気寿命試験チャンバー(4)不飽和蒸気寿命試験チャンバー(5)動的および静的エアバッグ爆発試験チャンバー(5)

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